Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 60749-1:2002 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Sponsored link
sklademVydáno: 2002-08-30
IEC 60749-1:2002 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

IEC 60749-1:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1: Généralités

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
572 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
572 Kč
Označení normy:IEC 60749-1:2002
Vydáno:2002-08-30
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 60749-1:2002

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Tisk