Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2011-01-27
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
| Označení normy: | IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 |
| Vydáno: | 2011-01-27 |
| Jazyk: | Anglicky/Francouzsky |
Popis