Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 - Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Sponsored link
sklademVydáno: 2011-01-27
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 - Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
Označení normy:IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
Vydáno:2011-01-27
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

Tisk