Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 60749-23:2004 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Sponsored link
sklademVydáno: 2004-02-23
IEC 60749-23:2004 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

IEC 60749-23:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23 : Durée de vie en fonctionnement à haute température

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
Označení normy:IEC 60749-23:2004
Vydáno:2004-02-23
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 60749-23:2004

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.

Tisk