Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 60749-35:2006 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
sklademVydáno: 2006-07-18
IEC 60749-35:2006 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

IEC 60749-35:2006

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 35: Microscopie acoustique pour composants électroniques à boîtier plastique

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
4290 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
4290 Kč
Označení normy:IEC 60749-35:2006
Vydáno:2006-07-18
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 60749-35:2006

Defines the procedures for performing acoustic microscopy on plastic encapsulated electronic components. Provides a guide to the use of acoustic microscopy for detecting anomalies (delamination, cracks, mould-compound voids, etc.) reproducibly and non-destructively in plastic packages.

Tisk