Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 60749-36:2003 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Sponsored link
sklademVydáno: 2003-02-13
IEC 60749-36:2003 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state

IEC 60749-36:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 36: Accélération constante

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
Označení normy:IEC 60749-36:2003
Vydáno:2003-02-13
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 60749-36:2003

Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test.

Tisk