Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2003-02-13
IEC 60749-36:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 36: Accélération constante
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
| Označení normy: | IEC 60749-36:2003 |
| Vydáno: | 2003-02-13 |
| Jazyk: | Anglicky/Francouzsky |
Popis
IEC 60749-36:2003
Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test.