Cena s DPH / bez DPH
Sponsored link
sklademVydáno: 2002-08-30
IEC 60749-8:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
| Označení normy: | IEC 60749-8:2002 |
| Vydáno: | 2002-08-30 |
| Jazyk: | Anglicky/Francouzsky |
Popis
IEC 60749-8:2002
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices. The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy.