Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 61580-9:1996 - Methods of measurement for waveguides - Part 9: Reflection coefficient at rectangular waveguide interfaces
Sponsored link
sklademVydáno: 1996-07-03
IEC 61580-9:1996 - Methods of measurement for waveguides - Part 9: Reflection coefficient at rectangular waveguide interfaces

IEC 61580-9:1996

Methods of measurement for waveguides - Part 9: Reflection coefficient at rectangular waveguide interfaces

Méthodes de mesure applicables aux guides d'ondes - Partie 9: Coefficient de réflexion aux interfaces des guides d'ondes

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
572 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
572 Kč
Označení normy:IEC 61580-9:1996
Vydáno:1996-07-03
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 61580-9:1996

Gives the means for determining the reflection coefficient at the junction of two similar rectanglular waveguides due to: differences in the wavguide internal dimensions, lateral displacement between the waveguide axes in either the H or E plane and angular misalignment between the waveguide axes.

Tisk