Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 62047-32:2019 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators
sklademVydáno: 2019-01-24
IEC 62047-32:2019 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators

IEC 62047-32:2019

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 32: Méthode d’essai pour la vibration non linéaire des résonateurs MEMS

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
3289 Kč
Označení normy:IEC 62047-32:2019
Vydáno:2019-01-24
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 62047-32:2019

IEC 62047-32:2019 specifies the test method and test condition for the nonlinear vibration of MEMS resonators. The statements made in this document apply to the development and manufacture for MEMS resonators.

Tisk