Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 62047-40:2021 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
sklademVydáno: 2021-09-03
IEC 62047-40:2021 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold

IEC 62047-40:2021

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
Označení normy:IEC 62047-40:2021
Vydáno:2021-09-03
Jazyk:Anglicky
Popis

IEC 62047-40:2021

IEC 62047-40:2021(E) specifies the test conditions and methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold. This document applies to normally open micro-electromechanical inertial shock switch.

Tisk