Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 62373:2006 - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
sklademVydáno: 2006-07-18
IEC 62373:2006 - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

IEC 62373:2006

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Essai de stabilité de température en polarisation pour transistors à effet de champ métal-oxyde-semiconducteur (MOSFET)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
Označení normy:IEC 62373:2006
Vydáno:2006-07-18
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 62373:2006

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Tisk