Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 62374-1:2010 - Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
sklademVydáno: 2010-09-29
IEC 62374-1:2010 - Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

IEC 62374-1:2010

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermétalliques

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
Označení normy:IEC 62374-1:2010
Vydáno:2010-09-29
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 62374-1:2010

IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.

Tisk