Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2010-05-19
IEC 62415:2010
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Dispositifs à semiconducteurs - Essai d'électromigration en courant constant
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
| Označení normy: | IEC 62415:2010 |
| Vydáno: | 2010-05-19 |
| Jazyk: | Anglicky/Francouzsky |
Popis
IEC 62415:2010
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.