Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2010-04-26
IEC 62416:2010
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
Dispositifs à semiconducteurs - Essai de porteur chaud sur les transistors MOS
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
| Označení normy: | IEC 62416:2010 |
| Vydáno: | 2010-04-26 |
| Jazyk: | Anglicky/Francouzsky |
Popis
IEC 62416:2010
IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.