Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 62884-2:2017 - Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
sklademVydáno: 2017-08-30
IEC 62884-2:2017 - Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method

IEC 62884-2:2017

Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method

Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 2 : Méthode de mesure de la gigue de phase

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
4290 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
4290 Kč
Označení normy:IEC 62884-2:2017
Vydáno:2017-08-30
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 62884-2:2017

IEC 62884-2:2017 specifies the methods for the measurement and evaluation of the phase jitter measurement of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators, including dielectric resonator oscillators (DROs) and oscillators using a thin-film bulk acoustic resonator (FBAR) (hereinafter referred to as an "Oscillator") and gives guidance for phase jitter that allows the accurate measurement of RMS jitter. In the measurement method, phase noise measurement equipment or a phase noise measurement system is used. NOTE Dielectric resonator oscillators (DROs) and oscillators using FBAR are under consideration.

Tisk