Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2020-05-27
IEC 62899-503-1:2020
Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
| Označení normy: | IEC 62899-503-1:2020 |
| Vydáno: | 2020-05-27 |
| Jazyk: | Anglicky |
Popis
IEC 62899-503-1:2020
IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).