Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 63287-2:2023 - Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
sklademVydáno: 2023-03-29
IEC 63287-2:2023 - Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

IEC 63287-2:2023

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité - Partie 2: Concept de profil de mission

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
Označení normy:IEC 63287-2:2023
Vydáno:2023-03-29
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 63287-2:2023

IEC 63287-2:2023 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.

Tisk