Cena s DPH / bez DPH
Sponsored link
sklademVydáno: 2014
ISO 15625:2014
ISO 15625:2014-Silk — Electronic test method for defects and evenness of raw silk
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2890 Kč
Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2890 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2890 Kč
Francouzsky Tisk
Skladem
2890 Kč
| Označení normy: | ISO 15625:2014 |
| Počet stran: | 15 |
| Vydání: | 1 |
| Vydáno: | 2014 |
Popis
ISO 15625:2014
ISO 15625:2014 specifies a test method for defects and evenness of raw silk by capacitive and optical electronic testers. It is applicable to raw silk with the yarn size between 13,3 dtex and 76,7 dtex or 12 denier and 69 denier, whether in skein or on cone, soaked or unsoaked.