Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
167 results
První strana123...7810121314Poslední strana
BS EN IEC 60068-2-13:2021
Environmental testing Tests. Test M: Low air pressure
Vydáno: 2021-04-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 60747-5-9:2019
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence
Vydáno: 2020-01-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
5640 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5640 Kč
BS IEC 60747-18-3:2019
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic system
Vydáno: 2020-01-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN IEC 60749-30:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Vydáno: 2020-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-7:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
PD IEC TR 63378-1:2021
Thermal standardization on semiconductor packages Thermal resistance and thermal parameter of BGA, QFP type semiconductor packages
Vydáno: 2022-01-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS IEC 60191-2:1966+A21:2020
Mechanical standardization of semiconductor devices Dimensions
Vydáno: 2020-04-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9900 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9900 Kč
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Vydáno: 2008-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS QC 750100:1986+A2:1996
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Discrete semiconductor devices. Sectional specification
Vydáno: 2010-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-9:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Permanence of marking
Vydáno: 2017-11-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS IEC 63068-3:2020
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Test method for defects using photoluminescence
Vydáno: 2020-07-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
167 Výsledky
První strana123...7810121314Poslední strana