Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS IEC 62483:2013
Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes on semiconductor devices
Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes on semiconductor devices
Vydáno: 2013-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8990 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8990 Kč
BS EN IEC 63287-1:2021
Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Guidelines for IC reliability qualification
Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Guidelines for IC reliability qualification
Vydáno: 2021-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8556 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8556 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
BS IEC 60747-19-1:2019
Semiconductor devices Smart sensors. Control scheme of smart sensors
Semiconductor devices Smart sensors. Control scheme of smart sensors
Vydáno: 2019-11-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
BS EN 60749-32:2003+A1:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Vydáno: 2011-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
BS EN 60749-25:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature cycling
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature cycling
Vydáno: 2003-10-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 60747-18-2:2020
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modules
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modules
Vydáno: 2020-02-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN 60749-35:2006
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
BS EN 62418:2010
Semiconductor devices. Metallization stress void test
Semiconductor devices. Metallization stress void test
Vydáno: 2010-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN 60749-42:2014
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature and humidity storage
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature and humidity storage
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč