Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
PD ES 59008-5-1:2001
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die
Vydáno: 2001-07-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
PD ES 59008-4-1:2001
Data requirements for semiconductor die. Specific requirements and recommendations Test and quality
Data requirements for semiconductor die. Specific requirements and recommendations Test and quality
Vydáno: 2001-03-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
BS EN IEC 60749-18:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Vydáno: 2019-06-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
13330 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
13330 Kč
BS IEC 62779-4:2020
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Vydáno: 2020-07-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
PD IEC/TR 63133:2017
Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Vydáno: 2018-01-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
24/30497546 DC
BS EN IEC 60749-24 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 24. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
BS EN IEC 60749-24 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 24. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
24/30497542 DC
BS EN IEC 60749-21 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 21. Solderability
BS EN IEC 60749-21 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 21. Solderability
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč