Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
167 results
První strana123...789111314Poslední strana
BS EN 60191-6-18:2010
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for ball grid array (BGA)
Vydáno: 2010-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60191-6-5:2001
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Design guide for fine-pitchball grid array (FBGA)
Vydáno: 2001-11-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60749-8:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Sealing
Vydáno: 2003-07-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-21:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Vydáno: 2011-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN IEC 63287-2:2023
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile
Vydáno: 2023-05-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
22/30443678 DC
BS EN 60749-34-1. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 34-1. Power cycling test for power semiconductor module
Vydáno: 2022-03-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS IEC 62951-9:2022
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-28:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
Vydáno: 2022-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9180 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9180 Kč
BS EN IEC 60749-10:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6660 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6660 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
25/30510337 DC
Draft BS EN 63378-4 Thermal standardization on semiconductor packages Part 4. Thermal evaluation board specifications for fine pitch semiconductor packages
Vydáno: 2025-03-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
167 Výsledky
První strana123...789111314Poslední strana