Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
156 results
První strana123...67891113Poslední strana
BS EN 60749-16:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)
Vydáno: 2004-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
390.60 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1171.80 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
BS EN 60068-2-77:1999
Environmental testing. Test methods Body strength and impact shock
Vydáno: 1999-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 62615:2010
Electrostatic discharge sensitivity testing. Transmission line pulse (TLP). Component level
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
644.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1934.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
13/30290462 DC
BS EN 60191-1. Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 1. General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Vydáno: 2013-09-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS IEC 60747-5-15:2022
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy
Vydáno: 2022-07-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
22/30451588 DC
BS EN 63150-3 Ed.1.0. Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment Part 3. Human foot impact motion
Vydáno: 2022-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS IEC 60747-5-4:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices Optoelectronic devices. Semiconductor lasers
Vydáno: 2023-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10602 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10602 Kč
23/30478757 DC
BS EN IEC 63287-3. Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Part 3. Guidelines for reliability qualification plans for power semiconductor module
Vydáno: 2023-08-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9052 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9052 Kč
BS IEC 62047-37:2020
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Vydáno: 2023-04-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
23/30473272 DC
BS IEC 60747-5-4 AMD 1. Semiconductor devices Part 5-4. Optoelectronic devices. Semiconductor lasers
Vydáno: 2023-04-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6510 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6510 Kč
156 Výsledky
První strana123...67891113Poslední strana