Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN IEC 60749-18:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8432 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8432 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9052 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9052 Kč
BS EN 60749-34:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
BS EN IEC 60749-12:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Vydáno: 2018-04-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
BS EN IEC 60749-13:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Salt atmosphere
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Salt atmosphere
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN IEC 60191-1:2018
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7564 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7564 Kč
BS EN IEC 63364-1:2022
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system Test method of sound variation detection
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system Test method of sound variation detection
Vydáno: 2023-02-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 63284:2022
Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Vydáno: 2022-11-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS IEC 60747-14-2:2000
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors Hall elements
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors Hall elements
Vydáno: 2001-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN 60749-36:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acceleration, steady state
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acceleration, steady state
Vydáno: 2003-06-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč