Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
167 results
První strana135678...121314Poslední strana
BS EN IEC 60191-1:2018
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
22/30443234 DC
BS EN 63378-3. Thermal standardization on semiconductor packages Part 3. Thermal circuit simulation models of semiconductor packages for transient analysis
Vydáno: 2022-01-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS EN IEC 60749-18:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Vydáno: 2020-11-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2019-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN IEC 60749-12:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Vydáno: 2018-04-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
24/30497538 DC
BS EN IEC 60749-7 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 7. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS EN IEC 63364-1:2022
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system Test method of sound variation detection
Vydáno: 2023-02-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 63284:2022
Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Vydáno: 2022-11-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
24/30506674 DC
BS EN IEC 63287-4 Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans Part 4: Early failure assessment
Vydáno: 2024-12-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
25/30510059 DC
BS EN IEC 63378-2-2 Thermal standardization on semiconductor packages Part 2-2: 3D thermal simulation models of semiconductor packages for steady-state analysis - PBGA and FBGA packages
Vydáno: 2025-02-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 62830-5:2021
Semiconductor devices. Semiconductor devices for energy harvesting and generation Test method for measuring generated power from flexible thermoelectric devices
Vydáno: 2021-02-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60191-6-19:2010
Mechanical standardization of semiconductor devices Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage
Vydáno: 2010-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
167 Výsledky
První strana135678...121314Poslední strana