Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN 60749-1:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods General
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods General
Vydáno: 2003-07-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
BS EN 62779-3:2016
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Functional type and its operational conditions
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Functional type and its operational conditions
Vydáno: 2016-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7564 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7564 Kč
BS IEC 62880-1:2017
Semiconductor devices. Stress migration test standard Copper stress migration test standard
Semiconductor devices. Stress migration test standard Copper stress migration test standard
Vydáno: 2020-07-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
BS EN 60749-7:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN 60749-21:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Vydáno: 2011-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
BS EN 60749-8:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Sealing
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Sealing
Vydáno: 2003-07-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN 60749-9:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Permanence of marking
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Permanence of marking
Vydáno: 2017-11-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
BS IEC 796-1:1990
Microprocessor system bus. 8-bit and 16-bit data MULTIBUS I Functional description with electrical and timing specifications
Microprocessor system bus. 8-bit and 16-bit data MULTIBUS I Functional description with electrical and timing specifications
Vydáno: 1991-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8556 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8556 Kč
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Vydáno: 2008-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč