Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN IEC 60749-18:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8432 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8432 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9548 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9548 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2019-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
BS IEC 60747-14-4:2011
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10230 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10230 Kč
BS EN 60749-34:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
BS EN 60745-1:2009+A11:2010
Hand-held motor-operated electric tools. Safety General requirements
Hand-held motor-operated electric tools. Safety General requirements
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10230 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10230 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
BS EN IEC 60749-12:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Vydáno: 2018-04-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
BS EN IEC 60749-13:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Salt atmosphere
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Salt atmosphere
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN IEC 60191-1:2018
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7998 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7998 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Vydáno: 2013-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS 3934-5:1997
Mechanical standardization of semiconductor devices Recommendations applying to tape automated bonding (TAB) of integrated circuits
Mechanical standardization of semiconductor devices Recommendations applying to tape automated bonding (TAB) of integrated circuits
Vydáno: 1997-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7998 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7998 Kč