Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
22/30443678 DC
BS EN 60749-34-1. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 34-1. Power cycling test for power semiconductor module
BS EN 60749-34-1. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 34-1. Power cycling test for power semiconductor module
Vydáno: 2022-03-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8990 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8990 Kč
BS EN IEC 60749-10:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6510 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6510 Kč
BS EN IEC 63287-2:2023
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile
Vydáno: 2023-05-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN 60749-4:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Vydáno: 2017-11-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 60747-10:1991
Semiconductor devices Generic specification for discrete devices and integrated circuits
Semiconductor devices Generic specification for discrete devices and integrated circuits
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7564 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7564 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7564 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7564 Kč
BS 7241:1989
Specification for IEC 822 VSB: parallel sub-system bus of the IEC 821 VME bus
Specification for IEC 822 VSB: parallel sub-system bus of the IEC 821 VME bus
Vydáno: 1990-03-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9734 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9734 Kč
BS EN 60749-6:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč