Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
24/30491834 DC
Draft BS EN 60747-14-12 ED1 Semiconductor devices Part 14-12: Semiconductor sensors - Performance test methods for CMOS imager-based gas sensors
Draft BS EN 60747-14-12 ED1 Semiconductor devices Part 14-12: Semiconductor sensors - Performance test methods for CMOS imager-based gas sensors
Vydáno: 2024-04-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS IEC 62047-37:2020
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Vydáno: 2023-04-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
23/30473272 DC
BS IEC 60747-5-4 AMD 1. Semiconductor devices Part 5-4. Optoelectronic devices. Semiconductor lasers
BS IEC 60747-5-4 AMD 1. Semiconductor devices Part 5-4. Optoelectronic devices. Semiconductor lasers
Vydáno: 2023-04-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9548 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9548 Kč
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Vydáno: 2020-09-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
BS EN 62779-1:2016
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication General requirements
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication General requirements
Vydáno: 2016-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Vydáno: 2013-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 60749-14:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Vydáno: 2003-12-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 60749-3:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS IEC 60747-14-4:2011
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10230 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10230 Kč