Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
167 results
První stranaPředchozí strana123...56789...121314DalšíPoslední stranaAnglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
PD ES 59008-4-1:2001
Data requirements for semiconductor die. Specific requirements and recommendations Test and quality
Data requirements for semiconductor die. Specific requirements and recommendations Test and quality
Vydáno: 2001-03-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Vydáno: 2019-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
PD ES 59008-6-2:2001
Data requirements for semiconductor die. Exchange data formats and data dictionary Data dictionary
Data requirements for semiconductor die. Exchange data formats and data dictionary Data dictionary
Vydáno: 2001-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN IEC 60747-5-5:2020
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Photocouplers
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Photocouplers
Vydáno: 2020-09-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9180 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9180 Kč
PD IEC/TR 63133:2017
Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Vydáno: 2018-01-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-11:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Vydáno: 2003-10-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60191-6-16:2007
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Vydáno: 2007-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60749-24:2004
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2004-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
167 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...56789...121314DalšíPoslední strana