Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
PD ES 59008-6-2:2001
Data requirements for semiconductor die. Exchange data formats and data dictionary Data dictionary
Data requirements for semiconductor die. Exchange data formats and data dictionary Data dictionary
Vydáno: 2001-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
BS EN 60749-11:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Vydáno: 2003-10-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
BS EN 60191-6-16:2007
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Vydáno: 2007-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
BS EN 60749-24:2004
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2004-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
BS IEC 62779-4:2020
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Vydáno: 2020-07-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
12586 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12586 Kč
BS EN IEC 60749-18:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Vydáno: 2019-06-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
PD IEC/TR 63133:2017
Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Vydáno: 2018-01-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN IEC 60747-5-5:2020
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Photocouplers
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Photocouplers
Vydáno: 2020-09-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8990 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8990 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7564 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7564 Kč