Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
167 results
První strana123...6810...121314Poslední strana
BS EN IEC 60749-26:2018 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
Vydáno: 2020-02-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
12900 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12900 Kč
BS IEC 62779-4:2020
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Vydáno: 2020-07-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-18:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Vydáno: 2019-06-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
18/30375624 DC
BS EN 60749-20-1. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 20-1. Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Vydáno: 2018-07-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS EN IEC 60749-10:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Vydáno: 2023-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
24/30497546 DC
BS EN IEC 60749-24 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 24. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
24/30497542 DC
BS EN IEC 60749-21 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 21. Solderability
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
24/30497109 DC
BS EN IEC 63068-5 Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 5. Test method for defects using X-ray topography
Vydáno: 2024-07-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS EN IEC 62007-1:2015+A1:2022
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Specification template for essential ratings and characteristics
Vydáno: 2022-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
23/30469010 DC
BS EN IEC 63378-3. Thermal standardization on semiconductor packages Part 3. Thermal circuit simulation models of discrete semiconductor packages for transient analysis
Vydáno: 2023-02-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 60747-18-4:2023
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Vydáno: 2023-03-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
167 Výsledky
První strana123...6810...121314Poslední strana