Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN IEC 60749-10:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS EN IEC 60749-12:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Vydáno: 2018-04-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3780 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3780 Kč
BS EN IEC 60749-13:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Salt atmosphere
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Salt atmosphere
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS EN IEC 60749-15:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Vydáno: 2020-10-01
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4920 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4920 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2019-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3780 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3780 Kč
BS EN IEC 60749-18:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8160 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8160 Kč
BS EN IEC 60749-18:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Vydáno: 2019-06-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
11340 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
11340 Kč
BS EN IEC 60749-26:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8700 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8700 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
11340 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
11340 Kč