Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN 60749-40:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
BS IEC 60747-14-5:2010
Semiconductor devices Semiconductor sensors. PN-junction semiconductor temperature sensor
Semiconductor devices Semiconductor sensors. PN-junction semiconductor temperature sensor
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Vydáno: 2019-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
PD ES 59008-6-2:2001
Data requirements for semiconductor die. Exchange data formats and data dictionary Data dictionary
Data requirements for semiconductor die. Exchange data formats and data dictionary Data dictionary
Vydáno: 2001-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7998 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7998 Kč
BS EN IEC 60747-5-5:2020
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Photocouplers
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Photocouplers
Vydáno: 2020-09-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9486 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9486 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 60191-6-16:2007
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Vydáno: 2007-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
BS EN 60749-11:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Vydáno: 2003-10-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
BS EN 60749-24:2004
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2004-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč