Cena s DPH / bez DPH
31.080.30 Tranzistory
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
19 results
12DalšíPoslední stranaBS IEC 60747-8-4:2004
Discrete semiconductor devices Metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications
Discrete semiconductor devices Metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications
Vydáno: 2004-11-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9486 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9486 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS IEC 60747-7:2010+A1:2019
Semiconductor devices. Discrete devices Bipolar transistors
Semiconductor devices. Discrete devices Bipolar transistors
Vydáno: 2019-10-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10230 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10230 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 62417:2010
Semiconductor devices. Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
Semiconductor devices. Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
Vydáno: 2010-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
BS EN 62373:2006
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Vydáno: 2006-09-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS IEC 60747-4:2007+A1:2017
Semiconductor devices. Discrete devices Microwave diodes and transistors
Semiconductor devices. Discrete devices Microwave diodes and transistors
Vydáno: 2020-05-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10230 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10230 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS IEC 62899-503-3:2021
Printed electronics Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length method
Printed electronics Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length method
Vydáno: 2021-09-08
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS IEC 62899-503-1:2020
Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
Vydáno: 2020-09-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
19 Výsledky
12DalšíPoslední strana