Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.30 Tranzistory

31.080.30 Tranzistory

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
19 results
1Poslední strana
BS IEC 60747-9:2019
Semiconductor devices Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
Vydáno: 2019-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9734 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
973.40 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2920.20 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9734 Kč
BS IEC 60747-8:2010+A1:2021
Semiconductor devices. Discrete devices Field-effect transistors
Vydáno: 2021-07-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9734 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
973.40 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2920.20 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9734 Kč
BS IEC 62373-1:2020
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Fast BTI test for MOSFET
Vydáno: 2023-03-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
644.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1934.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
BS IEC 63284:2022
Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Vydáno: 2022-11-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS EN 120003:1993
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Phototransistors, photodarlington transistors, phototransistor arrays
Vydáno: 1986-11-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 60747-8-4:2004
Discrete semiconductor devices Metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications
Vydáno: 2004-11-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8990 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
899.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2697.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8990 Kč
BS EN 120004:1993
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Ambient rated photocouplers with phototransistor output
Vydáno: 1988-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
644.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1934.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
BS IEC 60747-7:2010+A1:2019
Semiconductor devices. Discrete devices Bipolar transistors
Vydáno: 2019-10-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9734 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
973.40 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2920.20 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9734 Kč
17/30366375 DC
BS IEC 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) Part 1. Fast BTI Test method
Vydáno: 2017-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS EN 62416:2010
Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors
Vydáno: 2010-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
390.60 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1171.80 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
18/30381548 DC
BS EN 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) Part 1. Fast BTI Test method
Vydáno: 2018-08-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS EN 62417:2010
Semiconductor devices. Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
Vydáno: 2010-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
390.60 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1171.80 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
19 Výsledky
1Poslední strana