Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.30 Tranzistory

31.080.30 Tranzistory

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
19 results
První strana12
BS EN 62373:2006
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Vydáno: 2006-09-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 60747-4:2007+A1:2017
Semiconductor devices. Discrete devices Microwave diodes and transistors
Vydáno: 2020-05-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9734 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
973.40 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2920.20 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9734 Kč
BS QC 750114:1996
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor devices. Discrete devices. Field-effect transistors. Blank detail specification for case-rated field-effect transistors for switching applications
Vydáno: 1996-12-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS QC 750106:1993
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Field-effect transistors for case-rated power amplifier applications
Vydáno: 1993-07-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 62899-503-1:2020
Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
Vydáno: 2020-09-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 62899-503-3:2021
Printed electronics Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length method
Vydáno: 2021-09-08
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 63275-1:2022
Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors Test method for bias temperature instability
Vydáno: 2022-10-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
19 Výsledky
První strana12