Cena s DPH / bez DPH
31.080.99 Ostatní polovodičové součástky
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN 62047-6:2010
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Axial fatigue testing methods of thin film materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Axial fatigue testing methods of thin film materials
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 62047-18:2013
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Bend testing methods of thin film materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Bend testing methods of thin film materials
Vydáno: 2013-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
BS EN 62047-22:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Vydáno: 2008-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
BS EN 62258-5:2006
Semiconductor die products Requirements for information concerning electrical simulation
Semiconductor die products Requirements for information concerning electrical simulation
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 62047-21:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS IEC 60747-14-2:2000
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors Hall elements
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors Hall elements
Vydáno: 2001-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 60747-16-1:2002+A2:2017
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Amplifiers
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Amplifiers
Vydáno: 2018-04-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10230 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10230 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč