Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
152 results
První strana123...579...111213Poslední strana
BS IEC 62047-29:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature
Vydáno: 2018-03-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60146-2:2000
Semiconductor convertors. General requirements and line commutated convertors Self-commutated semiconductor converters including direct d.c. converters
Vydáno: 2000-08-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8700 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8700 Kč
BS EN 62047-20:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Gyroscopes
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9180 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9180 Kč
BS IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Vydáno: 2019-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 62047-3:2006
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Thin film standard test piece for tensile testing
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
PD IEC/TR 62258-7:2007
Semiconductor die products XML schema for data exchange
Vydáno: 2007-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS IEC 62951-2:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible devices
Vydáno: 2019-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS IEC 63068-1:2019
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Classification of defects
Vydáno: 2019-05-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS IEC 62047-36:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
Vydáno: 2019-04-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 62047-43:2024
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Vydáno: 2024-03-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
24/30490678 DC
BS IEC 60747-5-18 Semiconductor devices Part 5-18: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method light emitting diodesof the macro photoluminescence for epitaxial wafers of micro light emitting diodes
Vydáno: 2024-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Vydáno: 2023-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
152 Výsledky
První strana123...579...111213Poslední strana