Cena s DPH / bez DPH
31.080.99 Ostatní polovodičové součástky
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS IEC 60747-18-1:2019
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors
Vydáno: 2019-06-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
BS EN 62258-2:2011
Semiconductor die products Exchange data formats
Semiconductor die products Exchange data formats
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10230 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10230 Kč
BS EN 60747-16-3:2002+A2:2017
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency converters
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency converters
Vydáno: 2018-02-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9486 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9486 Kč
BS EN 62047-2:2006
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Tensile testing method of thin film materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Tensile testing method of thin film materials
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS IEC 62047-37:2020
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Vydáno: 2023-04-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
24/30500239 DC
BS EN IEC 62047-52 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 52. Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
BS EN IEC 62047-52 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 52. Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
Vydáno: 2024-09-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč