Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
149 results
První strana123...6810111213Poslední strana
BS EN IEC 62031:2020+A11:2021
LED modules for general lighting. Safety specifications
Vydáno: 2022-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
644.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1934.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
BS IEC 62047-42:2022
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
Vydáno: 2022-10-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
644.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1934.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
24/30490678 DC
BS IEC 60747-5-18 Semiconductor devices Part 5-18: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method light emitting diodesof the macro photoluminescence for epitaxial wafers of micro light emitting diodes
Vydáno: 2024-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
24/30497861 DC
BS EN IEC 63551-1. Semiconductor devices. Detection modules of autonomous land vehicle Part 1. Testing methods of detection performance for LiDAR
Vydáno: 2024-08-01
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
24/30497109 DC
BS EN IEC 63068-5 Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 5. Test method for defects using X-ray topography
Vydáno: 2024-07-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS IEC 60747-18-4:2023
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Vydáno: 2023-03-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 63150-1:2019
Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment Arbitrary and random mechanical vibrations
Vydáno: 2023-04-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7564 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
756.40 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2269.20 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7564 Kč
BS IEC 62047-43:2024
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Vydáno: 2024-03-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Vydáno: 2023-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
644.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1934.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
24/30499096 DC
BS EN IEC 63602 Guidelines for Representing Switching Losses of SIC MOSFETs in Datasheets (Fast track)
Vydáno: 2024-10-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
24/30500166 DC
BS EN IEC 63550-4 Semiconductor devices. Neuromorphic devices Evaluation method of asymmetry in neuromorphic memristor devices
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
BS EN IEC 60747-16-6:2019
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency multipliers
Vydáno: 2019-09-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
644.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1934.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
149 Výsledky
První strana123...6810111213Poslední strana