Cena s DPH / bez DPH
71.040.40 Chemická analýza
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
179 results
První stranaPředchozí strana123...56789...131415DalšíPoslední stranaBS ISO 11952:2019
Surface chemical analysis. Scanning-probe microscopy. Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Surface chemical analysis. Scanning-probe microscopy. Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Vydáno: 2019-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9420 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9420 Kč
BS ISO 12406:2010
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon
Vydáno: 2010-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS ISO 12963:2017+A1:2020
Gas analysis. Comparison methods for the determination of the composition of gas mixtures based on one- and two-point calibration
Gas analysis. Comparison methods for the determination of the composition of gas mixtures based on one- and two-point calibration
Vydáno: 2021-01-08
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7320 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7320 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8160 Kč
BS ISO 13084:2018
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Vydáno: 2018-11-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7320 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7320 Kč
BS ISO 13424:2013
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Reporting of results of thin-film analysis
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Reporting of results of thin-film analysis
Vydáno: 2013-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8700 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8700 Kč
BS ISO 14167:2018
Gas analysis. General quality aspects and metrological traceability of calibration gas mixtures
Gas analysis. General quality aspects and metrological traceability of calibration gas mixtures
Vydáno: 2018-11-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS ISO 14606:2022 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Vydáno: 2023-02-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8160 Kč
BS ISO 14606:2022
Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Vydáno: 2023-02-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
179 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...56789...131415DalšíPoslední strana