Cena s DPH / bez DPH
Normy IEC
IEC standardy v elektronickém formátu PDF
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
10998 results
První stranaPředchozí strana123...128129130131132...915916917DalšíPoslední stranaIEC 61481-1:2014
Live working - Phase comparators - Part 1: Capacitive type to be used for voltages exceeding 1 kV a.c.
Live working - Phase comparators - Part 1: Capacitive type to be used for voltages exceeding 1 kV a.c.
Vydáno: 2014-10-24
Tisk
skladem
10316 Kč
PDF
K okamžitému stažení
10316 Kč
IEC 61445:2012
Digital Test Interchange Format (DTIF)
Digital Test Interchange Format (DTIF)
Vydáno: 2012-06-21
Tisk
skladem
11213 Kč
PDF
K okamžitému stažení
11213 Kč
IEC 61499-1:2012
Function blocks - Part 1: Architecture
Function blocks - Part 1: Architecture
Vydáno: 2012-11-07
Tisk
skladem
11960 Kč
PDF
K okamžitému stažení
11960 Kč
IEC 61501:1998
Nuclear reactor instrumentation - Wide range neutron fluence rate meter - Mean square voltage method
Nuclear reactor instrumentation - Wide range neutron fluence rate meter - Mean square voltage method
Vydáno: 1998-11-10
Tisk
skladem
7027 Kč
PDF
K okamžitému stažení
7027 Kč
Tisk
skladem
2392 Kč
PDF
K okamžitému stažení
2392 Kč
IEC 62040-4:2013
Uninterruptible power systems (UPS) - Part 4: Environmental aspects - Requirements and reporting
Uninterruptible power systems (UPS) - Part 4: Environmental aspects - Requirements and reporting
Vydáno: 2013-04-29
Tisk
skladem
3439 Kč
PDF
K okamžitému stažení
3439 Kč
IEC 62037-4:2012
Passive RF and microwave devices, intermodulation level measurement - Part 4: Measurement of passive intermodulation in coaxial cables
Passive RF and microwave devices, intermodulation level measurement - Part 4: Measurement of passive intermodulation in coaxial cables
Vydáno: 2012-07-24
Tisk
skladem
1196 Kč
PDF
K okamžitému stažení
1196 Kč
IEC 62047-21:2014
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
Vydáno: 2014-06-19
Tisk
skladem
2392 Kč
PDF
K okamžitému stažení
2392 Kč
IEC 62047-6:2009
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
Vydáno: 2009-04-07
Tisk
skladem
2392 Kč
PDF
K okamžitému stažení
2392 Kč
IEC TS 62045-1:2006
Multimedia security - Guideline for privacy protection of equipment and systems in and out of use - Part 1: General
Multimedia security - Guideline for privacy protection of equipment and systems in and out of use - Part 1: General
Vydáno: 2006-12-13
Tisk
skladem
2392 Kč
PDF
K okamžitému stažení
2392 Kč
IEC 62047-18:2013
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials
Vydáno: 2013-07-17
Tisk
skladem
2392 Kč
PDF
K okamžitému stažení
2392 Kč
IEC 62056-1-0:2014
Electricity metering data exchange - The DLMS/COSEM suite - Part 1-0: Smart metering standardisation framework
Electricity metering data exchange - The DLMS/COSEM suite - Part 1-0: Smart metering standardisation framework
Vydáno: 2014-06-04
Tisk
skladem
3439 Kč
PDF
K okamžitému stažení
3439 Kč
10998 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...128129130131132...915916917DalšíPoslední strana