Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy IEC

Normy IEC

IEC standardy v elektronickém formátu PDF

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
11203 results
První strana123...222426...932933934Poslední strana
IEC 60749-32:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Vydáno: 2002-08-30
Tisk
skladem
572 Kč
PDF
K okamžitému stažení
572 Kč
IEC 60761-5:2002
Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents - Part 5: Specific requirements for tritium monitors
Vydáno: 2002-01-16
Tisk
skladem
3289 Kč
PDF
K okamžitému stažení
3289 Kč
IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Vydáno: 2010-11-29
Tisk
skladem
1144 Kč
PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
IEC 60754-2:2011
Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 2: Determination of acidity (by pH measurement) and conductivity
Vydáno: 2011-11-17
Tisk
skladem
3289 Kč
PDF
K okamžitému stažení
3289 Kč
IEC 60763-2:2007
Specification for laminated pressboard - Part 2: Methods of test
Vydáno: 2007-02-15
Tisk
skladem
3289 Kč
PDF
K okamžitému stažení
3289 Kč
IEC 60749-33:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Vydáno: 2004-03-09
Tisk
skladem
1144 Kč
PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
IEC 60749-7:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2011-06-17
Tisk
skladem
1144 Kč
PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
IEC 60749-29:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
Vydáno: 2011-04-07
Tisk
skladem
4290 Kč
PDF
K okamžitému stažení
4290 Kč
IEC 60749-36:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Vydáno: 2003-02-13
Tisk
skladem
286 Kč
PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
IEC 60749-8:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Vydáno: 2002-08-30
Tisk
skladem
2288 Kč
PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
IEC 60759:1983/AMD1:1991
Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Vydáno: 1991-11-15
Tisk
skladem
286 Kč
PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
IEC 60749-21:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
Vydáno: 2011-04-07
Tisk
skladem
4290 Kč
PDF
K okamžitému stažení
4290 Kč
11203 Výsledky
První strana123...222426...932933934Poslední strana