Cena s DPH / bez DPH
Normy IEC
IEC standardy v elektronickém formátu PDF
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
11009 results
První stranaPředchozí strana123...435436437438439...916917918DalšíPoslední stranaIEC 60851-2:2009+AMD1:2015 CSV
Winding wires - Test methods - Part 2: Determination of dimensions
Winding wires - Test methods - Part 2: Determination of dimensions
Vydáno: 2015-05-21
Tisk
skladem
3439 Kč
PDF
K okamžitému stažení
3439 Kč
IEC 61034-1:2005+AMD1:2013 CSV
Measurement of smoke density of cables burning under defined conditions - Part 1: Test apparatus
Measurement of smoke density of cables burning under defined conditions - Part 1: Test apparatus
Vydáno: 2013-06-21
Tisk
skladem
4336 Kč
PDF
K okamžitému stažení
4336 Kč
IEC 62047-34:2019
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Vydáno: 2019-04-05
Tisk
skladem
2392 Kč
PDF
K okamžitému stažení
2392 Kč
IEC 62677-2:2017
Heat shrinkable low and medium voltage moulded shapes - Part 2: Methods of test
Heat shrinkable low and medium voltage moulded shapes - Part 2: Methods of test
Vydáno: 2017-10-11
Tisk
skladem
5681 Kč
PDF
K okamžitému stažení
5681 Kč
IEC 60679-1:2017
Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
Vydáno: 2017-07-26
Tisk
skladem
7027 Kč
PDF
K okamžitému stažení
7027 Kč
Tisk
skladem
3439 Kč
PDF
K okamžitému stažení
3439 Kč
IEC 61000-4-12:2017
Electromagnetic Compatibility (EMC) - Part 4-12: Testing and measurement techniques - Ring wave immunity test
Electromagnetic Compatibility (EMC) - Part 4-12: Testing and measurement techniques - Ring wave immunity test
Vydáno: 2017-07-18
Tisk
skladem
8073 Kč
PDF
K okamžitému stažení
8073 Kč
IEC 60444-8:2016
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Vydáno: 2016-12-15
Tisk
skladem
2392 Kč
PDF
K okamžitému stažení
2392 Kč
IEC 62801:2020
Measurement method of a half-wavelength voltage for Mach-Zehnder optical modulator in wireless communication and broadcasting systems
Measurement method of a half-wavelength voltage for Mach-Zehnder optical modulator in wireless communication and broadcasting systems
Vydáno: 2020-09-24
Tisk
skladem
7027 Kč
PDF
K okamžitému stažení
7027 Kč
Tisk
skladem
12708 Kč
PDF
K okamžitému stažení
12708 Kč
IEC 60300-3-3:2017
Dependability management - Part 3-3: Application guide - Life cycle costing
Dependability management - Part 3-3: Application guide - Life cycle costing
Vydáno: 2017-01-27
Tisk
skladem
8073 Kč
PDF
K okamžitému stažení
8073 Kč
IEC 62435-5:2017
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 5: Die and wafer devices
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 5: Die and wafer devices
Vydáno: 2017-01-20
Tisk
skladem
4485 Kč
PDF
K okamžitému stažení
4485 Kč
11009 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...435436437438439...916917918DalšíPoslední strana