Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>PD IEC/TR 63133:2017 Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Sponsored link
sklademVydáno: 2018-01-29
PD IEC/TR 63133:2017 Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

PD IEC/TR 63133:2017

Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
Označení normy:PD IEC/TR 63133:2017
Počet stran:20
Vydáno:2018-01-29
ISBN:978 0 580 98851 6
Status:Standard
Popis

PD IEC/TR 63133:2017


This standard PD IEC/TR 63133:2017 Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general

This Technical Report specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.


Tisk