Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-1:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
sklademVydáno: 2004-05-28
UNE EN 60749-1:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General

UNE EN 60749-1:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1786 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1488 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1488 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-1:2004
Počet stran:24
Vydáno:2004-05-28
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-1:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk