Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-10:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 10: Mechanical shock.
Sponsored link
sklademVydáno: 2003-05-30
UNE EN 60749-10:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 10: Mechanical shock.

UNE EN 60749-10:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 10: Mechanical shock.

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choques mecánicos.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1222 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1222 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1019 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1019 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-10:2003
Počet stran:15
Vydáno:2003-05-30
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-10:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 10: Mechanical shock. is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk