Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-16:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Sponsored link
sklademVydáno: 2003-11-21
UNE EN 60749-16:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

UNE EN 60749-16:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección del ruido de impacto de partículas (PIND).

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1662 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1662 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1385 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1385 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-16:2003
Počet stran:20
Vydáno:2003-11-21
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-16:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk