Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-19:2003/A1:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Sponsored link
sklademVydáno: 2011-01-19
UNE EN 60749-19:2003/A1:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength

UNE EN 60749-19:2003/A1:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia de la pastilla al cizallamiento.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
983 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
983 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
819 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
819 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-19:2003/A1:2011
Počet stran:12
Vydáno:2011-01-19
Status:Změna
Popis

This standard UNE EN 60749-19:2003/A1:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk