Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-2:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.
Sponsored link
sklademVydáno: 2003-05-30
UNE EN 60749-2:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.

UNE EN 60749-2:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión atmosférica.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1419 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1419 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1183 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1183 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-2:2003
Počet stran:19
Vydáno:2003-05-30
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-2:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure. is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk