Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-23:2005/A1:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Sponsored link
sklademVydáno: 2011-12-21
UNE EN 60749-23:2005/A1:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life

UNE EN 60749-23:2005/A1:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
971 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
971 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
809 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
809 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-23:2005/A1:2011
Počet stran:14
Vydáno:2011-12-21
Status:Změna
Popis

This standard UNE EN 60749-23:2005/A1:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk