Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2005-03-16
UNE EN 60749-23:2005
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1786 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1488 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1488 Kč
| Označení normy: | UNE EN 60749-23:2005 |
| Počet stran: | 25 |
| Vydáno: | 2005-03-16 |
| Status: | Norma |
Popis
This standard UNE EN 60749-23:2005 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
: