Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-24:2005 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Sponsored link
sklademVydáno: 2005-03-16
UNE EN 60749-24:2005 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

UNE EN 60749-24:2005

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST no polarizado.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1676 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1676 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1397 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1397 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-24:2005
Počet stran:19
Vydáno:2005-03-16
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-24:2005 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
: