Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-27:2006/A1:2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
sklademVydáno: 2013-01-01
UNE EN 60749-27:2006/A1:2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)

UNE EN 60749-27:2006/A1:2012

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 27: Ensayo de la sensibilidad de la descarga electrostática. Modelo máquina (HBM) (Ratificada por AENOR en enero de 2013.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
451 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
451 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-27:2006/A1:2012
Počet stran:11
Vydáno:2013-01-01
Status:Změna
Popis

This standard UNE EN 60749-27:2006/A1:2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk