Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-27:2006 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
sklademVydáno: 2006-11-01
UNE EN 60749-27:2006 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)

UNE EN 60749-27:2006

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 27: Ensayo de la sensibilidad de la descarga electrostática. Modelo máquina (HBM) (IEC 60749-27:2006)(Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1787 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1787 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-27:2006
Počet stran:17
Vydáno:2006-11-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-27:2006 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk