Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2011-11-01
UNE EN 60749-29:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29: Ensayo de enclavamiento. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2059 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2059 Kč
Označení normy: | UNE EN 60749-29:2011 |
Počet stran: | 26 |
Vydáno: | 2011-11-01 |
Status: | Norma |
Popis
This standard UNE EN 60749-29:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
: