Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-29:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
sklademVydáno: 2011-11-01
UNE EN 60749-29:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

UNE EN 60749-29:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29: Ensayo de enclavamiento. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2059 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2059 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-29:2011
Počet stran:26
Vydáno:2011-11-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-29:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk