Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-33:2005 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Sponsored link
sklademVydáno: 2005-03-16
UNE EN 60749-33:2005 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

UNE EN 60749-33:2005

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave no polarizada

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1402 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1402 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1168 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1168 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-33:2005
Počet stran:17
Vydáno:2005-03-16
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-33:2005 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk