Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-35:2006 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
sklademVydáno: 2007-01-01
UNE EN 60749-35:2006 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)

UNE EN 60749-35:2006

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2059 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2059 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-35:2006
Počet stran:25
Vydáno:2007-01-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-35:2006 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk