Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-36:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state
sklademVydáno: 2004-03-18
UNE EN 60749-36:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state

UNE EN 60749-36:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 36: Aceleración constante.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1239 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1239 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1032 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1032 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-36:2004
Počet stran:15
Vydáno:2004-03-18
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-36:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk